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適用于各種封裝形式的電阻器（小功率）進(jìn)行高溫高壓電老煉試驗。

電容濕熱試驗系統(tǒng)適用于各種軸向、徑向、表貼式等封裝形式的鉭電容器、陶瓷電容器進(jìn)行高溫高濕老煉試驗。

電容器高溫老化篩選設(shè)備，LH01系列電容器高溫老煉試驗臺適用于各種軸向、徑向、表貼式等封裝形式的鉭電容器、陶瓷電容器進(jìn)行高溫高壓電老煉試驗。

試驗系統(tǒng)對傳感器進(jìn)行高溫老化，檢測輸出的模擬量信號或數(shù)字信號。

設(shè)備通過測試得到保護結(jié)構(gòu)在ESD脈沖作用下的I-V特性曲線和開啟電壓、維持電壓、維持電流、二次擊穿電流等關(guān)鍵電參數(shù)，從而驗證ESD保護結(jié)構(gòu)是否達(dá)到設(shè)計要求。通過測試得到電路端口在ESD脈沖下的I-V特性曲線和開啟電壓、維持電壓、維持電流、二次擊穿電流等電參數(shù)，從而可分析集成電路的抗ESD特性。通過對研究對象施加TLP應(yīng)力，分析研究對象在ESD應(yīng)力下的特性變化和失效機理。