集成電路檢測(cè)設(shè)備,集成電路高溫老煉系統(tǒng)可對(duì)各種封裝形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模擬電路、數(shù)字電路、光電耦合器等施加單一信號(hào)源信號(hào)進(jìn)行高溫工作壽...
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產(chǎn)品分類集成電路檢測(cè)設(shè)備,集成電路高溫老煉系統(tǒng)可對(duì)各種封裝形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模擬電路、數(shù)字電路、光電耦合器等施加單一信號(hào)源信號(hào)進(jìn)行高溫工作壽...
查看詳情集成電路高溫老煉系統(tǒng)可對(duì)各種封裝形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模擬電路、數(shù)字電路、光電耦合器等施加單一信號(hào)源信號(hào)進(jìn)行高溫工作壽命試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)老煉篩...
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